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            鎢燈絲掃描電鏡

            鎢燈絲掃描電鏡

            • 所屬分類:SEM/EDS/EBSD檢測
            • 瀏覽次數:
            • 發布日期:2021-06-24 09:02:22
            • 產品簡述:

              設備名稱:鎢燈絲掃描電鏡

              型號:Q45W7

              品牌:美國FEI

              用途:掃描電鏡主要用于各種材料的組織形貌觀察,材料斷口分析和失效分析;配備能譜儀可進行材料實時微區的成分分析,元素定量、定性成分分析,快速的多元素面掃描和線掃描分布測量;配備背散射電子衍射儀(EBSD)可進行晶格取向分析;配備非金屬夾雜物分析軟件可進行夾雜物定性定量分析。

              特點:對于失效分析、質量控制和材料表征而言,Quanta 450鎢燈絲掃描電鏡具有經濟、高效的高分辨成像和分析應用的解決方案,應對不導電樣品,Quanta 450提供了低真空模式下的高性能、消除了對專用的樣品制備步驟;另外Quanta 450加上了換掃模式,擴展了SEM的成像和分析功能。

              技術參數:

              1.分辨率:

              ……

            • 產品概述

            鎢燈絲掃描電鏡

            設備名稱:鎢燈絲掃描電鏡

            型號:Q45W7

            品牌:美國FEI

            用途:掃描電鏡主要用于各種材料的組織形貌觀察,材料斷口分析和失效分析;配備能譜儀可進行材料實時微區的成分分析,元素定量、定性成分分析,快速的多元素面掃描和線掃描分布測量;配備背散射電子衍射儀(EBSD)可進行晶格取向分析;配備非金屬夾雜物分析軟件可進行夾雜物定性定量分析。

            特點:對于失效分析、質量控制和材料表征而言,Quanta 450鎢燈絲掃描電鏡具有經濟、高效的高分辨成像和分析應用的解決方案,應對不導電樣品,Quanta 450提供了低真空模式下的高性能、消除了對專用的樣品制備步驟;另外Quanta 450加上了換掃模式,擴展了SEM的成像和分析功能。

            技術參數:

            1.分辨率:

            (1)二次電子(SE)成像:

            高真空模式:30KV時≦3.0nm;3KV≦8.0 nm

            低真空模式:30KV時≦3.0nm;3KV≦10.0 nm

            環境真空模式:30KV時≦3.0nm

            (2)背散射電子(BSE)成像

            高、低真空模式:30KV時≦4.0nm

            2.放大倍數:

            高真空模式下,13x-1000000x

            放大倍數誤差:≦3%

            3.牛津能譜儀(EDS):

            能量分辨率:MnKa保證由于127eV

            元素分析范圍:Be4~Cf98

            我公司金相檢測擁有德國蔡司Axio observer Z1M 研究級智能全自動材料顯微鏡、 MR5000金相顯微鏡等專業檢測設備 ,FEI Quanta 450掃描電鏡,并配備牛津能譜儀、背散射電子衍射儀(EBSD)等設備達到科研級。

            設備名稱:鎢燈絲掃描電鏡

            型號:Q45W7

            品牌:美國FEI

            用途:掃描電鏡主要用于各種材料的組織形貌觀察,材料斷口分析和失效分析;配備能譜儀可進行材料實時微區的成分分析,元素定量、定性成分分析,快速的多元素面掃描和線掃描分布測量;配備背散射電子衍射儀(EBSD)可進行晶格取向分析;配備非金屬夾雜物分析軟件可進行夾雜物定性定量分析。

            特點:對于失效分析、質量控制和材料表征而言,Quanta 450鎢燈絲掃描電鏡具有經濟、高效的高分辨成像和分析應用的解決方案,應對不導電樣品,Quanta 450提供了低真空模式下的高性能、消除了對專用的樣品制備步驟;另外Quanta 450加上了換掃模式,擴展了SEM的成像和分析功能。

            技術參數:

            1.分辨率:

            ……

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